Tag: fraunhofer enas

Impulse für Europas technologische Souveränität

Knotenpunkt für Halbleitertests und -zuverlässigkeit

Das neu eröffnete Kompetenzzentrum ETRC versteht sich als strategische Plattform für die Entwicklung, Erprobung und Validierung von Test- und Zuverlässigkeitsverfahren entlang der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette.

Jessica Mouchegh

26. June 2025

Bondverfahren in der Mikrosystemtechnik

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS hat gemeinsam mit der TU Chemnitz und Shinko Electric Industries eine neue Fügetechnologie, induktives Bondverfahren genannt, für Mikrosysteme entwickelt.

Petra Gottwald

4. October 2022

Tag: fraunhofer enas

Diese Seite zeigt Artikel zu diesem Tag: fraunhofer enas

Knotenpunkt für Halbleitertests und -zuverlässigkeit

Bondverfahren in der Mikrosystemtechnik